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硅片厚度测量可用青量光栅高精度数字高度计
硅片厚度测量可用青量光栅高精度数字高度计

青量光栅高精度数字高度计 ,用于锂电隔膜、模具、导轨、半导体、滚针、连接器等测量,最小读数0.1μm,适合测量薄膜、硅片、滚针等精密小件。高精度光栅位移传感器和精密导轨技术确保精度稳定、快速测量。

青量数字高度计

绿色高亮LED显示器,显示清晰。

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