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密克微测数字高度计测试Kett涂层测厚仪,用的标准膜厚片
密克微测数字高度计测试Kett涂层测厚仪,用的标准膜厚片

密克微测数字高度计 测试日本Kett涂层测厚仪用的标准膜厚片,测头使用直径5mm的平面测头,高度计采用高精度传感器和精密导轨,精度稳定、手感顺畅,快速测量不跳数,任意位置置零,

密克微测高度计

多种精度可选择。

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