TD8160单片非晶磁性测量系统-松本机电

产品简介 / Introduction

产品特点product feature

单片非晶磁性测量系统

TD8160单片非晶磁性测量系统,测量非晶 / 纳米晶合金薄片（带）交流磁特性,磁场强度的测量兼容电流测量法（M.C 法）和磁场线圈法（H-Coil法),参照标准： GB/T 19345.1 。

产品展示Product show

TD8160单片非晶磁性测量系统
单片非晶磁性测量系统
TD8160单片非晶磁性测量系统

产品参数Product Parameter

产品介绍：

1.专用于测量非晶或纳米晶薄片(带)交流磁特性。

　　2.由励磁及精密测量装置 ( 40 Hz～65 Hz，可定制至400 Hz )、非晶单片磁导计、全自动测量软件组成。

　　3.参考标准：GB/T 19345.1-2017《非晶纳米晶合金第1部分：铁基非晶软磁合金带材》 (厂家参与起草)。

产品特性：

　 1.装置具有独立的电参量校准功能，可通过高等级的电学标准器对其进行校准。

　　2.可将磁材的磁参量溯源至电学基本量，以保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。

　　3.多种规格的单片磁导计可选，以适应不同宽度的非晶单片样品的测试。

　　4.单片磁导计采用双磁轭结构，可实现磁轭退磁和样品退磁。

　　5.采用磁感和频率可预设的交流减幅退磁方式，具有良好的退磁效果和重复性。

　　6.磁场强度的测量兼容电流测量法 ( M.C 法 ) 和磁场线圈法 ( H-Coil 法 )。

　　7.配备专业软件，除放置样品和设置参数外，整个测试过程可全自动完成。

产品规格：

磁测量指标

磁场强度H	1A/m~200A/m
磁通密度B	0.1T~1.7T①
磁极化强度J	0.1T~1.7T①
频率F	40Hz~400Hz,细度: 0.01 Hz
被测磁参量	最佳不确定度(k=2)	最佳重复性
磁场强度H	0.50%	0.20%
磁感B25、B50、B80②	1.00%	0.30%
损耗P1.0、P1.3、 P1.4、P1.5③	3.00%	1.00%

测试条件: (23± 5)°C, 50Hz/ 60Hz,试验开始之前，应对样品进行退磁。

　　测量值的准确度:根据测定框中装入样品方式和位置不同会产生1%~2%的偏差。

　　测量值的重复性:同一样品放入指定位置并保持不再移动并进行反复测量，( 获得的重复数据)视为样品的重复性。

　　备注:①B和J的具体值依赖于材料性能。②B25指磁场为25 A/m时的磁通密度，以此类推。③P1.0指磁通为1.0T时的比总损耗，以此类推。

应用示意图：

应用示意图

参与非晶国际对比

2015.8月宝钢代表中国参加了由IEC/TC68发起的铁基非晶带材单片磁性能测量的国际比对。使用的测试仪器即厂家研制

的TD8160，在二轮的国际比对中，均取得了较好的测试结果。

　　下图为当时各国测试结果对比图，红圈内为中国代表团结果。

非晶测量特性简介

　　非晶带材，与取向硅钢带材相比，有以下特点：

　　1.非晶带材的厚度很薄，一般为 0.025 mm，只有取向硅钢带材的 1/10 左右。

　　2.比总损耗很低，P1.5 / 50 的典型值约为 0.2 W/kg，该值是取向硅钢 P1.7 / 50 典型值的 1/5 左右。

　　3.具有高磁致伸缩和低的磁各向异性，且易产生应力而使其磁性能恶化。

　　4.还具有低矫顽力、高磁导率、低饱和磁感、高电阻率等特点。

　　5.由上可见，在工频下测量非晶磁性能，宜采用单片磁导计进行测量 ( 单片法 )。

　测量方法

　　1.单片法是国际主流的非晶测量方法之一，如美标 A932 和日标 H7152 均早已提出了该方法；2014 年 IEC 起草的标准，

和我国 2015 年重新修订的 GB/T

　　19345.1 标准中均明确提出了单片法测量非晶磁性能。

　　2.单片法与环样法相比，其测量数据更能反映材料本身的磁特性，且省去了制样与绕线等复杂过程。

　　3.由于铁基非晶带材的上述特点可见，单片法的技术要求和实现难度均很高，与普通取向硅钢带材相比，对磁测设备的

灵敏度要求高近 100 倍；考虑到非晶带

　　材试样很小，其磁性能检测设备的灵敏度要求更高。

　　4.单片样磁场测量目前有两种方法：电流法 ( M.C ) ；磁场线圈法 ( H-Coil )。

　　5.M.C 法是电工钢单片检测 IEC 标准使用的唯一方法；而 H-coil法是美日电工钢单片检测标准使用的方法之一，该方法

对磁场测量的准确度更高，但在磁导计的制作、微弱信号处理及干扰抑制、量值溯源等方面也有很高的要求。

　　6.TD8160 采用的单片磁导计为双磁轭结构，磁场测量兼容 M.C法和 H-coil法。