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松本新闻
日本佑能DS?2数显测径仪,微小精密件的微米级质检利器

       在半导体、PCB及精密探针加工赛道,微小工件的尺寸管控,直接决定成品良率。日本佑能UNIONTOOL DS-2数显测径仪,专为小径精密零件打造,测量量程0-4mm,指示精度可达0.2μm,分辨率0.1μm,测量稳定、重复性优异,是机边快速检测的优选量具。

DS-2数显测径仪特点

      仪器内置交叉滚子直线轴承主轴,无间隙滑动,规避普通量具晃动带来的数据漂移;搭配可更换弹簧,支持四档测力切换,兼顾硬质工件与薄片、细线,既能稳稳夹持硬质测试探针,又不会压伤晶圆薄片、纤细引脚等易变形工件。硬质合金测砧耐磨持久,长期量产使用精度不易偏移;Type-C接口集供电与数据传输一体,测量数据一键导出,方便工厂搭建质量追溯体系,适配数字化质检流程。


DS-2数显测径仪

     它的应用场景十分广泛,核心用于测试探针外径抽检与全检,同时适配 PCB 微钻针、晶圆片、半导体引脚、微细轴类等各类精密部件。PCB钻针直径一旦超差,极易引发断钻、孔壁粗糙;测试探针外径不稳,会造成接触不良、信号失效;半导体引脚尺寸偏差,则直接导致装配故障。DS-2数显测径仪可以快速捕捉微米级波动,帮助产线及时调整工艺,拦截不良品。


测量案例

      整机小巧轻便,占地小,可就近放置在加工工位旁,实现机边随测。操作简单,一键读数,消除人工使用千分尺时施力不一的误差,批量检测效率更高。搭配不同选配测砧与载台,还可应对台阶件、窄槽等特殊测点,适配多样化检测需求。
     对于深耕微小精密加工的企业而言,普通量具早已难以满足严苛公差。佑能DS-2数显测径仪凭借稳定的微米级测量能力,把可靠精度带到产线,为探针、微钻、半导体元器件等精密产品筑牢品质防线。

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