微小径精密检测优选：日本佑能DS-1数显测径仪

在半导体与走心机精密加工领域，微小轴件、测试探针的外径管控，一直是品质把控的难点。普通量具极易受手法、测力干扰，微小工件容易压伤，测量重复性差，难以匹配半导体严苛的良率标准。日本佑能UNIONTOOL DS-1数显测径仪，凭借微米级精度、丰富探针配件，成为走心机配套、半导体零部件批量检测的可靠量具。

数显测径仪DS-1

DS-1数显测径仪量程为0-15mm，分辨率可达1μm，专为微小外径测量打造。它搭载交叉滚子导轨，运行顺滑无间隙，杠杆式一键测量结构，避开传统千分尺旋转棘轮的操作差异，大幅降低人为误差。仪器支持测力可调，测量硬质合金刀具时保证接触稳定；检测纤细半导体探针、薄壁线材时调小测力，避免压损工件，兼顾精度与防护。

丰富的测量探针、可更换测砧是这款设备一大亮点。尖头、楔形、异形测针按需选配，可以应对台阶探针、细针、微型喷嘴、PCB 微钻等多种异形精密件，适配走心机产出的各类微小轴类配件。无论是机台首件抽检，还是产线全检，更换测砧即可切换测量对象，不用多台量具，适配多品种小批量精密加工。

应用案例

在走心机产线上，DS-1数显测径仪可以紧跟加工节拍，快速核验车削后的微小零件外径，及时反馈尺寸偏差，减少批量不良流出；而在半导体行业，它多用于测试探针、导针、金属微管等核心元器件检测。半导体组件对尺寸一致性要求极高，微米级偏差就会造成接触失效，DS-1数显测径仪稳定的重复测量能力，刚好匹配行业标准。

仪器自带高清数显，读数直观，同时配备USB数据通讯，支持总线供电，测量数据可上传电脑，用于SPC统计，实现检测数据全程可追溯，契合现代化精密工厂品质管理流程。机身小巧轻便，既可固定在质检台，也可随工位移动，适配车间灵活布局。

DS-1数显测径仪

对比常规量具，佑能DS-1数显测径仪解决了微小件测不准、易压伤、数据难留存等痛点。对于使用走心机批量加工探针、微型轴件，以及半导体元器件厂商而言，这套测径方案能够稳定守住微米级尺寸门槛，降低报废，提升成品一致性，为精密加工品质保驾护航。